Accelerated Testing: Statistical Models, Test Plans, and Data Analyses: Statistical Models, Te...

"Accelerated Testing: Statistical Models, Test Plans, and Data Analyses" von Wayne B. Nelson ist ein umfassendes Werk, das sich mit den Methoden und Anwendungen des beschleunigten Testens in der Statistik beschäftigt. Das Buch gehört zur Wiley Series in Probability and Statistics und bietet eine detaillierte Einführung in die statistischen Modelle und Testpläne, die bei der Vorhersage der Lebensdauer von Produkten unter beschleunigten Bedingungen verwendet werden. Nelson erklärt die Grundlagen des beschleunigten Testens und wie es dazu genutzt wird, die Zuverlässigkeit und Haltbarkeit von Produkten effizient zu bewerten. Er behandelt verschiedene statistische Modelle, darunter Exponential-, Weibull- und log-normale Verteilungen, um die Ausfallzeiten vorherzusagen. Zudem legt das Buch großen Wert auf die Planung von Tests und die Analyse der daraus gewonnenen Daten. Durch zahlreiche Beispiele und Fallstudien aus der Praxis wird verdeutlicht, wie diese Methoden angewendet werden können, um fundierte Entscheidungen zu treffen. Das Buch richtet sich an Statistiker, Ingenieure und Fachleute im Bereich Qualitätskontrolle sowie an Studenten dieser Fachrichtungen.