Electron Microscopy and Analysis, Third Edition

"Electron Microscopy and Analysis, Third Edition" von Peter J. Goodhew ist ein umfassendes Lehrbuch, das sich mit den Prinzipien und Anwendungen der Elektronenmikroskopie beschäftigt. Das Buch bietet einen detaillierten Überblick über die verschiedenen Techniken der Elektronenmikroskopie, einschließlich Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (SEM). Es erklärt die theoretischen Grundlagen sowie die praktischen Aspekte der Bildgebung und Analyse von Materialien auf mikroskopischer Ebene. Die dritte Ausgabe wurde aktualisiert, um neueste Entwicklungen in der Technologie und Methodik zu berücksichtigen. Sie behandelt Themen wie Probenvorbereitung, Bildinterpretation und Datenanalyse. Zudem werden fortgeschrittene Techniken wie Elektronenbeugung und Spektroskopiemethoden erläutert. Das Buch richtet sich an Studierende und Forscher in den Bereichen Materialwissenschaften, Physik, Chemie und Ingenieurwesen. Es dient sowohl als Lehrbuch für Einsteiger als auch als Nachschlagewerk für erfahrene Anwender der Elektronenmikroskopie.